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V-400E多用途超聲波掃描顯微鏡長顯超聲
來源:delsys表面肌電腦電分析系統_EMG_EEG_人因工程 | 發布時間:2024/5/14 | 瀏覽次數：
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V-400E 多用途超聲波掃描顯微鏡
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產品介紹：
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名稱：超聲波掃描顯微鏡
型號：V-400E
產地：德國
應用：晶圓面處分層缺陷；錫球、晶圓、或填膠中的開裂；晶圓的傾斜；各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）
產品應用：
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超聲波掃描顯微鏡應用領域：
* 半導體電子行業：半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
* 材料行業：復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；
* 生物醫學：活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等
超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應用：
* 晶圓面處分層缺陷
* 錫球、晶圓、或填膠中的開裂
* 晶圓的傾斜
* 各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）
超聲波顯微鏡的在失效分析中的優勢：
* 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內部結構
* 可分層掃描、多層掃描
* 實施、直觀的圖像及分析
* 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計
* 可顯示材料內部的三維圖像
* 對人體是沒有傷害的
* 可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）
主要參數：
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* -該型號超聲波掃描顯微鏡系統是實驗室、研發和工業生產線主流機型。
* - 掃描速度最高可達：2000mm/s
* - 與其它品牌機型相比掃描效率高30%
* - 最大掃描范圍：400mm×400mm
* - 最小掃描范圍：200μm×200μm
* - 射頻最大帶寬：500MHz
* - 新型FCT防誤判專利探頭
咨詢或索取詳細產品資料，請聯系ANALYSIS（蘇州長顯）工作人員。
 
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