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看看其他人是如何使用SuperK激光的
用于RGB應用的消色差元光學的驗證
案例
用于RGB應用的消色差元光學的驗證
超光學提供的前所未有的光控制也拓寬了光學測試所需的參數空間。
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元光學色散工程
案例
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閱讀更多用于RGB應用的消色差元光學的驗證
超光學提供的前所未有的光控制也拓寬了光學測試所需的參數空間。
哈佛大學約翰·a·保爾森工程與應用科學學院的研究團隊Capasso Group開發了寬帶消色差RGB金屬套，并使用NKT Photonics SuperK白光光纖耦合激光器驗證了其性能。
增加超光學復雜性
元光學[1]在過去十年中取得了重大突破。簡言之，取決于例如入射光的波長、偏振、自旋和角度的多個光學功能都可以被設計成單個平面光學器件，而無需大量的經典光學器件。
實現有效的超光學的先決條件包括：
其精確的性能模擬
所設計的器件可以在可用制造技術的范圍內制造。
特別是從一開始就解決這兩個問題的方法有望為應用程序提供一種新的范式[2]。隨著光學復雜性的增加，可能還有一個額外的警告，那就是隨之而來的測試要求的多樣化。例如，如果超光學器件要提供寬帶消色差性能，則需要通過目標光譜范圍內的測試和測量來驗證模擬。寬帶光纖耦合激光源可以在這樣的光譜范圍內提供一致的光束參數性能。
用于VR/AR的高性能元光學
李等人[2]證明了對復雜mm甚至cm尺度的3D元光學[3]使用計算高效的逆向設計方法，該方法可以自然地考慮制造約束。
為了證明他們的方法，該小組首先模擬并在熔融二氧化硅襯底上制造了兩個直徑為2毫米的RGB消色差金屬套，隨后在光纖掃描近眼VR和AR成像配置中使用了這些元件。
電子束制造的金屬透鏡的掃描電子顯微鏡圖像。
大規模的超光學器件可以使用納米壓印光刻技術或電子束寫入技術制造到表面上或表面中。也可以采用CMOS兼容的制造技術[4]。
NKT Photonics的SuperK白光激光器有助于我們團隊開展的許多不同的超光學項目的光譜性能驗證。
李博士
哈佛大學約翰·A·保爾森工程與應用科學學院
多波長下的表征
成像性能的驗證是在預期色域的極端RGB值下進行的——在這種情況下，為470、548和648 nm。為此，作者使用NKT Photonics SuperK白光光纖耦合激光器和SuperK VARIA可調諧濾波器，在每個波長下產生最小線寬（≈10 nm）。
通過組合RGB波長（在這種情況下，每個線寬≈1 nm）的單獨和單獨激光二極管的輸出，也可以達到合成的黃色、青色和品紅色“波長”。
在藍色、綠色、紅色和組合RGB（合成白色）光照下，通過RGB消色差金屬透鏡對USAF分辨率目標進行成像。
對于主要設置的VR和AR驗證，再次使用SuperK白光光纖耦合激光器，并再次使用預期的RGB波長。通過在多個層次上對獨立的光纖耦合RGB通道進行時間和空間調制，作者能夠演示單色、3色和7色3D效果VR圖像。
通過對單個或多個SuperK白光激光波長的多級調制實現的單個、3色和7色3D效果VR圖像。
總結
該研究的關鍵成果是利用元光學設計方法在寬光譜范圍內進行清晰的消色差成像和顯示，該方法顯著減少了計算開銷，同時考慮了制造限制。
作者計劃探索物理、設計方法和制造技術，共同實現高性能大規模元元件的下一步突破。
SuperK白光光纖耦合激光源是在這種情況下進行消色差驗證測試的理想而靈活的表征工具，在所有待測試波長下提供可預測的光學特性，從而有助于確保結果的可靠性。
工具書類
[1] 光學元透鏡的原理、功能和應用
[2] Meta optics實現虛擬現實的RGB消色差聚焦
[3] 逆向設計實現大規模高性能元光學重塑虛擬現實
[4] 大面積金屬元件：設計、表征和大規模制造
SuperK的優勢
我們的SuperK超連續譜白光激光器是表征先進光學元件、超材料、等離子體等的理想選擇
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