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寬帶交鑰匙介電譜
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低成本交鑰匙介電測試系統，通過無縫集成，測量介電常數（電容）和損耗因數，作為溫度的函數：
高精度LCR計（阻抗分析儀），寬頻率范圍（20 Hz至1 MHz或110 MHz，或0.01 Hz至1 MHz，與使用的LCR計類型有關）
獨特的五通道測試夾具，可測量100 pF樣品的損耗系數低至0.05%。
帶液氮冷卻的溫度箱，-180℃至250℃，等溫試驗或加熱/冷卻斜坡試驗
執行自動測試和數據保存的計算機程序。
雖然一些商業測試系統對年輕研究人員來說可能昂貴得令人望而卻步（10萬美元），但如果客戶愿意使用翻新的高質量LCR儀表（如傳說中的HP/Agilent 4284A 20 Hz至1 MHz），我們的測試系統損耗很低，并且可以顯著降低。
五通道功能對于正在開發介電材料并希望快速測量介電常數和損耗因數（作為溫度和頻率的函數）以執行成分優化的客戶來說非常重要。
對于有興趣在寬頻率范圍內研究介電弛豫過程的客戶，我們還提供了第二個測試系統，可以將頻率范圍擴展到0.01（0.1）Hz至1 MHz，但價格仍然合理。 |
